Introducción a la gestión metrológica

Orlando Cedeño Tamayo

Resumen


El nuevo milenio presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al software, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidades y capacidades de almacenamiento, es común hablar de unidadesde almacenamiento de Terabytes. El campo de la metrología científica está adportas del descubrimiento del patrón electrónico para la masa, utilizando el número de Avogadro (6,025 ⋅10-24) o la balanza de watt, ampliará la exactitud de las mediciones. Próximamente se verá un lunar en el rostro de una jovencita y esto podrá ser un ipod, dado el alto desarrollo de la nanoelectrónica. El reciente cambio o actualización del Vocabulario Internacional de Términos básicos y generales en Metrología - VIM, hoy conocido como la Guía ISO/ IEC 99:2008 ha marcado una nueva tendencia de la metrología, que debe ser comprendida por toda la comunidad científica, industrial y legal en el mundo, cada vez más globalizado.

Palabras clave


Metrología ; Gestión ; Calidad ; Competencia metrológica

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Referencias


BIPM – Bureau Internacional de Pesas y Medidas [Fecha de consulta: 2011-09-06]. Disponible en http://www.bipm.org/en/scientific/elec/watt_balance/.

CEDEÑO, Orlando; Gestión Metrológica, un enfoque por procesos, 2009. www.cmcmetrologia.com

CEDEÑO TAMAYO, Orlando "Un enfoque de procesos para la gestión metrológica" En: Colombia Espiral / Fundación Universitaria Agraria de Colombia Uniagraria ISSN: 0123-6628 Editorial v.014 fasc. p.17 - 20 ,2007.

Guía ISO/IEC 99:2008 Vocabulario Internacional de Términos y conceptos fundamentales en Metrología ISO 10012:2003 Gestión Metrológica.

ISO/IEC 17025:2005 Requisitos para evaluar la competencia de los laboratorios de Calibración o Ensayo.




DOI: https://doi.org/10.23850/22565035.19

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